Research activities

Research activities at Laser & Terahertz test team

Research

In the frame of classical failure analysis process, defect localization is a key point. Different kind of defect can be found inside integrated circuits, at the semiconductor level, at the oxides level and at the metallization level. Optical techniques have proven their efficiency to detect these different kinds of defect.

Laser fault injection consists in changing some logical states inside digital devices by sending laser pulses at different locations inside the chip. Fault injection is a mandatory technique to validate the safety level of chips embedded in critical applications. Our team has worked in this field to validate the robustness of chips toward external threats.

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2017

Journal articles

titre
Art Painting Diagnostic Before Restoration with Terahertz and Millimeter Waves
auteur
Jean-Paul Guillet, M. Roux, K. Wang, Xue Ma, F. Fauquet, H. Balacey, B. Recur, F. Darracq, P. Mounaix
article
Journal of Infrared, Millimeter and Terahertz Waves, Springer Verlag, 2017, <http://link.springer.com/article/10.1007/s10762-017-0358-1>. <10.1007/s10762-017-0358-1>
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Conference papers

titre
Terahertz Biomedical Imaging: From Multivariate Analysis and Detection to Material Parameter Extraction
auteur
Al-Ibadi Amel, Joyce Bou-Sleiman, Cassar Quentin, Gaëtan Macgrogan, Hugo Balacey, Zimmer Thomas, Patrick Mounaix, J.-P. Guillet
article
2017 Progress In Electromagnetics Research Symposium - Spring (PIERS), May 2017, Saint Petersbourg, Russia
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titre
Art Painting Testing with Terahertz Pulse and Frequency Modulated Continuous Wave
auteur
J.-P. Guillet, Marie Roux, Kejian Wang, Xue Ma, Frederic Fauquet, Frederic Darracq, Patrick Mounaix
article
2017 Progress In Electromagnetics Research Symposium, May 2017, Saint Petersbourg, Russia
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titre
Contrôle non destructif terahertz et fabrication additive
auteur
J.-P. Guillet, Patrick Mounaix
article
La photonique appliquée à l'aéronautique, Feb 2017, Bordeaux, France. 2017, <http://photonique.u-bordeaux.fr/Evenements/La-photonique-appliquee-a-l-aeronautique>
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2016

Journal articles

titre
Bulk magnetic terahertz metamaterials based on dielectric microspheres
auteur
Michal Sindler, C. Kadlec, Filip Dominec, P. Kuzel, Catherine Elissalde, Ahmad Kassas, Julien Lesseur, Dominique Bernard, Patrick Mounaix, H. Nemec
article
Optics Express, Optical Society of America, 2016, 24 (16), pp.18340. <10.1364/OE.24.018340>
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titre
Terahertz imaging and tomography as efficient instruments for testing polymer additive manufacturing objects
auteur
Jean Baptiste Perraud, Anne Françoise Obaton, Joyce Bou-Sleiman, Benoit Recur, Hugo Balacey, Frederic Darracq, Jean-Paul Guillet, Patrick Mounaix
article
Applied optics, Optical Society of America, 2016, 55, pp.3462 - 3462. <10.1364/AO.55.003462.v003>
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titre
Bulk magnetic terahertz metamaterials based on dielectric microspheres
auteur
Michal Sindler, Christelle Kadlec, Filip Dominec, Petr Kužel, Catherine Elissalde, Ahmad Kassas, Julien Lesseur, Dominique Bernard, Patrick Mounaix, Hynec Němec
article
Optics Express, Optical Society of America, 2016, 24 (16), pp.18340-18345. <10.1364/OE.24.018340>
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titre
Advanced Processing Sequence for 3-D THz Imaging
auteur
Hugo Balacey, Benoit Recur, Jean-Baptiste Perraud, Joyce Sleiman, Jean-Paul Guillet, Patrick Mounaix
article
IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology, 2016, 6, pp.191 - 198. <10.1109/TTHZ.2016.2519263>
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titre
Intrinsic Properties of Anisotropic Dielectric Micro-Resonators Obtained through Near-Field Terahertz Spectroscopy
auteur
Patrick Mounaix, Irina Khromova, P. Kuzel, Igal Brener, John L. Reno, U-Chan Chung, Catherine Elissalde, Mario Maglione, Oleg Mitrofanov
article
Conference on Lasers and Electro-OpticsConference on Lasers and Electro-Optics, OSA Technical Digest (online) (Optical Society of America, 2016), 2016, <10.1364/CLEO_SI.2016.STh4I.2>
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titre
Splitting of magnetic dipole modes in anisotropic TiO2 micro-spheres
auteur
Irina Khromova, Petr Kužel, Igal Brener, John L. Reno, U-Chan Chung Seu, Catherine Elissalde, Mario Maglione, Patrick Mounaix, Oleg Mitrofanov
article
Laser and Photonics Reviews, Wiley-VCH Verlag, 2016, 10 (4), pp.681-687. <10.1002/lpor.201600084>
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Conference papers

titre
Advanced processing sequence for 3D THz imaging
auteur
Patrick Mounaix
article
7th International Workshop on Terahertz Technology and Applications,, Nov 2016, Kaiserslautern, Germany
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titre
Photoconductive Microprobe Based Near-field Scanning Of Terahertz Resonances Of A Single High-index TiO2 Microsphere
auteur
Patrick Mounaix, Catherine Elissalde, Michael Nagel, S. Sawallich, Christopher Matheisen
article
IRMMW 2016, Oct 2016, copenague, Denmark
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titre
Terahertz paint thickness measurements : from automotive to aeronautics industry
auteur
Patrick Mounaix, Hugo Balacey, Phil Taday, Ian Gregory, Robert M. May
article
PHAROS, Oct 2016, Talence France. <http://laphia.labex.u-bordeaux.fr/Actualites/PHAROS-Event-2016-Oct-24-26-2016-i3864.html>
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titre
THz tomography and image processing : a new tool for polymer and ceramic additive manufacturing characrerization
auteur
Patrick Mounaix, Anne Françoise Obaton, Hugo Balacey, Jean Baptiste Perraud, Jean-Paul Guillet, Joyce Bou-Sleiman, Benoit Recur
article
Pharos event 2016, Oct 2016, Talence, France. 2016, <http://laphia.labex.u-bordeaux.fr/Actualites/PHAROS-Event-2016-Oct-24-26-2016-i3864.html>
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titre
2D and 3D THz imaging: necessity of automated data processing tools
auteur
Patrick Mounaix
article
SPIE Asia Beijing 2016, Oct 2016, pekin, China
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titre
Tomography and image processing for polymer additive manufacturing objects
auteur
Patrick Mounaix
article
8th International Symposium on Ultrafast Phenomena and Terahertz Waves, Oct 2016, Chongqing, China. <http://isuptw2016.csp.escience.cn/dct/page/1>
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titre
Frequency modulated continuous wave terahertz imaging for art restoration
auteur
J.-P. Guillet, Kejian Wang, Marie Roux, Frederic Fauquet, Frédéric Darracq, Patrick Mounaix
article
IRMMW 2016, Sep 2016, Copenhagen, Denmark. <10.1109/IRMMW-THz.2016.7758717>
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titre
Extending Terahertz Paint Thickness Measurements To Advanced Industry-Standard Automotive Paint Structures
auteur
Patrick Mounaix, Ian Gregory, Phil Taday, Robert M. May
article
IRMMW 2016, Sep 2016, copenague, Denmark. <http://terahertz.dk/irmmwthz2016/>
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titre
Automated Data And Image Processing For Biomedical Sample Analysis
auteur
Patrick Mounaix, Hugo Balacey, Jean-Paul Guillet, Emma Pickwell-Macpherson, Gaëtan Macgrogan, Amel Alabadi
article
IRRMW 2016, Sep 2016, copenague, Denmark. <http://terahertz.dk/irmmwthz2016/>
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titre
Frequency Modulated Continuous Wave Terahertz Imaging For Art Restoration
auteur
Patrick Mounaix, Frederic Darracq, Jean-Paul Guillet, Frederic Fauquet, Marie Roux, Kejian Wang
article
IRMMW 2016, Sep 2016, copenague, Denmark
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titre
Near-field THz Time-domain Spectroscopy Of Anisotropic Dielectric Micro-particles
auteur
Patrick Mounaix, Christopher Matheisen, Igal Brener, Irina Khromova, John L. Reno, P. Kuzel, U-Chan Chung, Catherine Elissalde
article
IRMMW 2016, Sep 2016, copenague, Denmark
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titre
Bulk rigid terahertz metamaterials based on dielectric microspheres
auteur
Patrick Mounaix, C. Kadlec, Catherine Elissalde, Filip Dominec, H. Nemec, P. Kuzel
article
TST 2016 , May 2016, Budapest, Hungary
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titre
Automated data and image processing tools for THz applications : Additive manufacturing and Biomedical cases
auteur
Patrick Mounaix
article
7 THz Bio conference , Apr 2016, Seoul, South Korea
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Other publications

titre
Franco-Chinese Workshop : Collaboration in Photonics between University of Bordeaux and Huazhong University of Science and Technology
auteur
J.-P. Guillet, Patrick Mounaix, Lionel Canioni, Mythili Prakasam, Véronique Jubera, Vincent Dousset
article
Workshop on the photonics in fields of terahertz, materials for optics, advance imaging. 2016
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titre
De nouvelles ondes pour le CND
auteur
Patrick Mounaix
article
Application des ondes terahertz pour le contrôle non destructif. 2016
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titre
Les ondes Térahertz, une alternative prometteuse aux méthodes classiques de CND
auteur
Patrick Mounaix, Anne Françoise Obaton
article
Les-ondes-terahertz-une-alternative-prometteuse-aux-methodes-classiques-de-cnd. 2016
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titre
Photonics & Aeronautics: a wedding with a promising future
auteur
Patrick Mounaix, Laurent Bechou
article
photonique et aeronautique. 2016, pp.Avril
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titre
CONTRÔLES ET MESURES UN NOUVEL ENJEU POUR LA FABRICATION ADDITIVE
auteur
Patrick Mounaix, Anne Françoise Obaton
article
description des potentiels de la spectro imagerie terahertz pour l 'impression 3D. 2016
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Poster communications

titre
Tomography And Image Processing For Polymer additive Manufacturing Characterization
auteur
Patrick Mounaix, Anne Françoise Obaton, Benoit Recur, Frederic Darracq, Hugo Balacey, Jean Baptiste Perraud, Jean-Baptiste Perraud, Joyce Bou-Sleiman
article
IRMMW 2016, Sep 2016, Copenague, Denmark. <http://terahertz.dk/irmmwthz2016/>
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titre
European Medieval Parchment Studied By THz Time Domain Spectroscopy And Imaging
auteur
Patrick Mounaix, Hugo Balacey, Jean Baptiste Perraud, Anne Lejeune, Martine Fabre
article
IRMMW 2016, Sep 2016, Copenague, Denmark
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titre
Chemometrics Applied To Terahertz And Raman Spectra For Explosives Analysis
auteur
Patrick Mounaix, Joyce Bou-Sleiman, Bernd Fischer, S. Engelbrecht, Lionel Merlat, Bruno Bousquet
article
IRMMW 2016, Sep 2016, copenague, Denmark. <http://terahertz.dk/irmmwthz2016/>
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titre
Bulk Magnetic Terahertz Metamaterials Based On Dielectric Microspheres
auteur
Patrick Mounaix, C. Kadlec, Catherine Elissalde, Filip Dominec, H. Nemec, Michal Sindler, P. Kuzel
article
IRMMW 2016, Sep 2016, copenague, Denmark. <http://terahertz.dk/irmmwthz2016/>
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titre
Réduction des effets de réfraction par immersion dans un liquide à adaptation d’indice pour l’imagerie terahertz 2D et 3D
auteur
Patrick Mounaix, Jean-Baptiste Perraud, Jean-Paul Guillet, Joyce Bou-Sleiman, François Simoens
article
Ecole doctorale de Bordeaux, Mar 2016, talence, France
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2015

Journal articles

titre
Quantitative Analysis of Hexahydro-1,3,5-trinitro-1,3,5, Triazine/Pentaerythritol Tetranitrate (RDX–PETN) Mixtures by Terahertz Time Domain Spectroscopy
auteur
Joyce Bou Sleiman, Bruno Bousquet, Norbert Palka, Patrick Mounaix
article
Applied Spectroscopy, Society for Applied Spectroscopy, 2015, 69 (12), pp.1464-1471
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titre
Low-frequency noise effect on terahertz tomography using thermal detectors.
auteur
Jean-Paul Guillet, Benoît Recur, Hugo Balacey, Joyce Bou Sleiman, F. Darracq, Dean Lewis, Patrick Mounaix
article
Applied optics, Optical Society of America, 2015, 54 (22), pp.6758-6762. <10.1364/AO.54.006758>
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Conference papers

titre
Terahertz detection of explosive materials and dangerous objects
auteur
Norbert Palka, M. Kowalski, M Walczakowski, M Szustakowski, W Ciurapinski, J. Wrobel, L Jodlowski, E Rurka, Joyce Bou Sleiman, Patrick Mounaix, F. Ellrich, D. Molter, J. Jonuscheit, G Von Freymann, R. Beigang
article
NATO ARW on THz Diagnostics of CBRN effects and Detection of Explosives & CBRN, Nov 2015, Izmir, Turkey. 2015
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titre
Discrimination and identification of RDX/PETN explosives by chemometrics applied to terahertz time-domain spectral imaging
auteur
Joyce Bou Sleiman, Jb Perraud, Bruno Bousquet, Jean-Paul Guillet, Norbert Palka, Patrick Mounaix
article
VIII Millimetre Wave and Terahertz Sensors and Technology conference, Sep 2015, Toulouse, France. SPIE, 9651, 2015, Proceeding SPIE 9651, of the. Millimetre Wave and Terahertz Sensors and Technology VIII conference. <10.1117/12.2197442>
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titre
Chemical imaging and quantification of RDX/PETN mixtures by PLS applied on terahertz time-domain spectroscopy
auteur
Joyce Bou Sleiman, Jb Perraud, Bruno Bousquet, Norbert Palka, Jean-Paul Guillet, Patrick Mounaix
article
40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz), 2015, Aug 2015, Hong Kong, China. 2015, Proceedings of the 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz), 2015. <10.1109/IRMMW-THz.2015.7327791>
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titre
Immersion in refractive index matching liquid for 2D and 3D terahertz imaging
auteur
Jb Perraud, Joyce Bou Sleiman, François Simoens, Patrick Mounaix
article
40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz), Aug 2015, Hong Kong, France. IEEE, 2015, Procceding of the 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz). <10.1109/IRMMW-THz.2015.7327706>
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titre
THz response of TiO2 microspheres embedded in a dielectric layer
auteur
Michal Sindler, C Kadlec, H. Nemec, F. Dominec, P. Kuzel, Catherine Elissalde, U-C Chung, Patrick Mounaix
article
40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz), Aug 2015, Hong Kong, France. IEEE, 2015, Proceeding of the 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz). <10.1109/IRMMW-THz.2015.7327597>
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titre
AMI : Augmented Michelson Interferometer
auteur
David Furio, Martin Hachet, Jean-Paul Guillet, Bruno Bousquet, Stéphanie Fleck, Patrick Reuter, Lionel Canioni
article
SPIE. ETOP - Education and Training in Optics & Photonics, Jun 2015, Bordeaux, France
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https://hal.inria.fr/hal-01121917/file/AMI-ETOP15-final.pdf BibTex
titre
Near-field spectroscopy of sub-wavelength (<λ/10) anisotropic dielectric resonators at terahertz frequencies
auteur
Oleg Mitrofanov, Irina Khromova, F. Dominec, P. Kuzel, Jl Reno, Igal Brener, U-Chan Chung, Catherine Elissalde, Mario Maglione, Patrick Mounaix
article
2015 European Conference on Lasers and Electro-Optics, Jun 2015, Munich, Germany. OSA, 2015, Proceeding of the 2015 European Conference on Lasers and Electro-Optics
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titre
Magnetic dipole and electric dipole resonances in TiO2 microspheres at terahertz frequencies
auteur
Oleg Mitrofanov, Filip Domenic, P. Kuzel, John Reno, Igal Brener, U-Chan Chung, Catherine Elissalde, Mario Maglione, Patrick Mounaix
article
Quantum Sensing and Nanophotonic Devices XII,, Feb 2015, San Francisco, United States. SPIE, 2015, Proceeding. SPIE 9370, Quantum Sensing and Nanophotonic Devices XII. <10.1117/12.2079734>
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titre
Ordered subsets convex algorithm and automatic image processing sequences: the solid bases for 3D THz inspection
auteur
Hugo Balacey, Jb Perraud, Joyce Bou Sleiman, Benoît Recur, Patrick Mounaix
article
8èmes Journées THz , 2015, Areches-Beaufort, France. 2015
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titre
Imagerie et spectroscopie Terahertz: applications aux problématiques de défense et de sécurité
auteur
Joyce Bou Sleiman, Jb Perraud, Benoît Recur, Bruno Bousquet, Norbert Palka, Patrick Mounaix
article
JNRDM 2015, 2015, Bordeaux, France. 2015
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BibTex
titre
Chemical imaging of RDX/PETN explosives by chemometrics appliyed on terahertz time-domain spectroscopy
auteur
Joyce Bou Sleiman, Jb Perraud, Bruno Bousquet, Norbert Palka, Patrick Mounaix
article
SPIE Security + Defence, 2015, Toulouse, France. 2015
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titre
Metrological Evaluation of Tomography Methods Applied to Objects Fabricated by Additive Manufacturing
auteur
Anne-Françoise Obaton, Marius Costin, Patrick Mounaix, Jean Michel Geffrin, Christelle Eyraud, Christelle Souvignet, Jean-Marc Moschetta
article
International symposium on Digital Industrial radiology and computed tomography, 2015, Ghent, Belgium. 2015
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titre
THz imaging versus X-Ray tomography: Applications to material inspection
auteur
Benoît Recur, Hugo Balacey, Joyce Bou Sleiman, Jb Perraud, Patrick Mounaix
article
ICMTS, 2015, Quebec, Canada. 2015
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Other publications

titre
De nouvelles ondes à la vue perçante
auteur
Patrick Mounaix
article
Les ondes térahertz et le domaine de la défense et de la sécurité. 2015
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Poster communications

titre
Multivariate analysis of terahertz spectra: classification and quantitation of explosives mixtures of RDX and PETN
auteur
Joyce Bou Sleiman, Bruno Bousquet, Norbert Palka, Patrick Mounaix
article
congrès CHIMIOMETRIE XVI, 2015, Genève, Switzerland. 2015
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2014

Journal articles

titre
Three-Dimensional Silver Nanoparticle Formation Using Femtosecond Laser Irradiation in Phosphate Glasses: Analogy with Photography
auteur
Nicolas Marquestaut, Yannick Petit, Arnaud Royon, Patrick Mounaix, Thierry Cardinal, Lionel Canioni
article
Advanced Functional Materials, Wiley, 2014, 24 (37), pp.5824-5832. <10.1002/adfm.201401103>
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01052820/file/MarquestautAdFM2014_PostPrint.pdf BibTex
titre
Ordered subsets convex algorithm for 3D terahertz transmission tomography
auteur
Benoît Recur, Hugo Balacey, Joyce Bou Sleiman, Jean-Baptiste Perraud, Jean-Paul Guillet, Andrew Kingston, Patrick Mounaix
article
Optics Express, Optical Society of America, 2014, 22 (19), pp.23299-23309. <10.1364/OE.22.023299>
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01066999/file/RecurOE2014_PostPrint.pdf BibTex
titre
Near-field probing of Mie resonances in single TiO2 microspheres at terahertz frequencies
auteur
Oleg Mitrofanov, Filip Dominec, Petr Kužel, John L. Reno, Igal Brener, U-Chan Chung, Catherine Elissalde, Mario Maglione, Patrick Mounaix
article
Optics Express, Optical Society of America, 2014, 22 (19), pp.23034-23042. <10.1364/OE.22.023034>
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01064594/file/MitrofanovOE2014_Post-Print.pdf BibTex
titre
Chemometrics applied to quantitative analysis of ternary mixtures by Terahertz spectroscopy
auteur
Josette El Haddad, Frédérick Miollis (de), Joyce Bou Sleiman, Lionel Canioni, Patrick Mounaix, Bruno Bousquet
article
Analytical Chemistry, American Chemical Society, 2014, 86 (10), pp.4927-4933. <10.1021/ac500253b>
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BibTex
titre
Aeronautics composite material inspection with a terahertz time-domain spectroscopy system
auteur
Franck Ospald, Wissem Zouathi, René Beigang, Carsten Matheis, Joachim Jonuscheit, Benoît Recur, Jean-Paul Guillet, Patrick Mounaix, Wouter Vleugels, Pablo Venegas Bosom, Laura Vega Gonzalez, Ion Lopez, Rafael Martinez Edo, Yehuda Sternberg, Marjike Vandewal
article
Optical Engineering, SPIE, 2014, 53 (3), pp.031208 (1-14). <10.1117/1.OE.53.3.031208>
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00942971/file/OspaldOE2014_53_3_031208-HAL.pdf BibTex
titre
Broadband effective magnetic response of inorganic dielectric resonator-based metamaterial for microwave applications
auteur
Riad Yahiaoui, U-Chan Chung, Shah Nawaz Burokur, A. De Lustrac, Catherine Elissalde, Mario Maglione, Valerie Vigneras, Patrick Mounaix
article
Applied Physics A, Springer Verlag, 2014, 114 (3), pp.997-1002. <10.1007/s00339-013-8033-4>
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00877752/file/YahiaouiAPA2014_PostPrint.pdf BibTex
titre
Review of Terahertz Tomography Techniques
auteur
Jean Paul Guillet, Benoît Recur, Louis Frederique, Bruno Bousquet, Lionel Canioni, Inka Manek-Hönninger, Pascal Desbarats, Patrick Mounaix
article
Journal of Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, 2014, 35 (4), pp.382-411. <10.1007/s10762-014-0057-0>
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00968839/file/GuilletJIMTW2014_PostPrint.pdf BibTex
titre
Terahertz metamolecules deposited on thin flexible polymer: design, fabrication and experimental characterization
auteur
Riad Yahiaoui, Keisuke Takano, Fumiaki Miyamaru, Masanori Hangyou, Patrick Mounaix
article
Journal of Optics, Institute of Physics (IOP), 2014, 16 (9), pp.094014 (1-6). <10.1088/2040-8978/16/9/094014>
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01064121/file/YahiaouiJO2014_PostPrint.pdf BibTex
titre
A comprehensive study of the application of the EOP techniques on bipolar devices
auteur
Mohamed Mehdi Rebai, Frédéric Darracq, Jean-Paul Guillet, Bernou Elise, Kevin Sanchez, Philippe Perdu, Dean Lewis
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2014, 54 (9-10), pp.2088-2092
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Conference papers

titre
Processing sequence for non-destructive inspection based on 3D terahertz images
auteur
Hugo Balacey, Perraud Jean-Baptiste, Joyce Bou Sleiman, Jean-Paul Guillet, Benoît Recur, Patrick Mounaix
article
Infrared, Millimeter-Wave, and Terahertz Technologies III, Oct 2014, Beijing, China. <http://proceedings.spiedigitallibrary.org/proceeding.aspx?articleid=1935495>. <10.1117/12.2071889>
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BibTex
titre
Expectation maximisation algorithms for terahertz transmission tomography
auteur
Benoît Recur, Hugo Balacey, Patrick Mounaix
article
SPIE Optics, Photonics, Optical Engineering, Applications, Aug 2014, San Diego, California, United States. 9199, pp.91990O (1-8), 2014, <10.1117/12.2062476>
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BibTex
titre
Temperature Effect on Reflected Laser Probing Signal of Multiple Elementary Substructures
auteur
Mohamed Rebai, Frédéric Darracq, Jean-Paul Guillet, Philippe Perdu, Kévin Sanchez, D. Lewis
article
21th International symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits (IPFA), Jun 2014, Singapour, Singapore. IEEE, pp.374-378, 2014
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BibTex
titre
Temperature Effect on Reflected Laser Probing Signal of Multiple Elementary Substructures
auteur
Mohamed Mehdi Rebai, Frédéric Darracq, Jean-Paul Guillet, Philippe Perdu, Kevin Sanchez, Dean Lewis
article
21th International symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits, Jun 2014, Singapour, Singapore. IEEE, IEEE Conference Proceedings from the 21th International symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits, pp.370-374, 2014, IEEE Conference Proceedings from the 21th International symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits. <10.1109/IPFA.2014.6898165 >
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2013

Journal articles

titre
Examination of femtosecond laser matter interaction in multipulse regime for surface nanopatterning of vitreous substrates
auteur
Nadezda Varkentina, Thierry Cardinal, Fabien Moroté, Patrick Mounaix, Pascal André, Yannick Deshayes, Lionel Canioni
article
Optics Express, Optical Society of America, 2013, 21 (24), pp.29090-29100. <10.1364/OE.21.029090>
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BibTex
titre
Terahertz imaging of sub-wavelength particles with Zenneck surface waves
auteur
M. Navarra-Cia, M. Natrella,, F. Dominec, Jean-Christophe Delagnes, P. Kuzel, Patrick Mounaix, C. Graham, C. C. Renaud, A.J. Seeds, O. Mitrofanov
article
Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2013, 103 (22), pp.221103 (1-5). <10.1063/1.4836195>
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titre
Ultra-flexible multiband terahertz metamaterial absorber for conformal geometry applications
auteur
Riad Yahiaoui, Jean Paul Guillet, Frédérick Miollis (de), Patrick Mounaix
article
Optics Letters, Optical Society of America, 2013, 38 (23), pp.4988-4990. <10.1364/OL.38.004988>
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titre
Impact of negative bias temperature instability on the single-event upset threshold of a 65 nm SRAM cell
auteur
Issam El Moukhtari, Vincent Pouget, Camille Larue, Frédéric Darracq, D. Lewis, Philippe Perdu
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2013, 53 (9-11), pp.1325-1328
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titre
Characterization and modeling of laser-induced single-event burn-out in SiC power diodes
auteur
Nogaye Mbaye, Vincent Pouget, Frédéric Darracq, D. Lewis
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2013, 53 (9-11), pp.1315-1319
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titre
Review in terahertz spectral analysis
auteur
Josette El Haddad, Bruno Bousquet, Lionel Canioni, Patrick Mounaix
article
Trends in Analytical Chemistry, Elsevier, 2013, 44, pp.98-105. <10.1016/j.trac.2012.11.009>
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00788749/file/Trac_mounaix_last_version.pdf BibTex
titre
Room temperature thermopile THz sensor
auteur
Sofiane Ben Mbarek, Sébastien Euphrasie, Thomas Baron, Laurent Thiery, Pascal Vairac, Bernard Cretin, Jean-Paul Guillet, Laurent Chusseau
article
Sensors and Actuators A: Physical , Elsevier, 2013, 193, pp.155-160. <10.1016/j.sna.2013.01.014>
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titre
La cobotique. La robotique soumise.
auteur
Bernard Claverie, Benoît Le Blanc, Pascal Fouillat
article
Communication & Organisation (GREC/O), Presses Universitaires de Bordeaux, 2013, 44, pp.203-214
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titre
Negative Bias Temperature Instability Effect on the Single Event Transient Sensitivity of a 65 nm CMOS Technology
auteur
Issam El Moukhtari, Vincent Pouget, Frédéric Darracq, Camille Larue, Philippe Perdu, D. Lewis
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2013, 60 (4), pp.2635-2639
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Conference papers

titre
How to Interpret the Reflected Laser Probe Signal of Multiple Elementary Substructures in Very Deep Submicron Technologies
auteur
Mohamed Mehdi Rebai, Frédéric Darracq, D. Lewis, Philippe Perdu, Kévin Sanchez
article
ASM international. 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA 2013), Nov 2013, San José, United States. ASM international, pp.471-481, 2013
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titre
All dielectric metamaterials at millimeter wavelengths using single-size TiO2 resonators: Simulation and experiments
auteur
Valérie Vigneras, Riad Yahiaoui, Patrick Mounaix, U-Chan Chung Seu, Catherine Elissalde, Mario Maglione
article
European Microwave Conference, Oct 2013, Nuremberg, Germany. pp.100, 2013
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titre
Analysis of Short-Term NBTI Effect on the Single-Event Upset Sensitivity of a 65nm SRAM using Two-Photon Absorption
auteur
El Moukthari Issam, Vincent Pouget, Frédéric Darracq, Camille Larue, Dean Lewis, Philippe Perdu
article
14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, Sep 2013, Oxford, United Kingdom. IEEE, Proceedings of the 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, pp.1-6, 2013, Proceedings of the 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems. <10.1109/RADECS.2013.6937408>
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titre
A physical prediction model issued from TCAD investigations for single event burnout in power MOSFETs
auteur
Siconolfi Sara, Hubert Guillaume, Artola Laurent, Frédéric Darracq, David Jean Pierre
article
14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), Sep 2013, Oxford, United Kingdom. IEEE, Proceedings of the 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, pp.1-4, 2013, Proceedings of the 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems. <10.1109/RADECS.2013.6937442>
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titre
Vers des métamatériaux main-gauche à partir de résonateurs diélectriques : les cas de disques de TiO2 aux fréquences millimétriques
auteur
Riad Yahiaoui, U-Chan Chung, Catherine Elissalde, Mario Maglione, Valérie Vigneras, Patrick Mounaix
article
Colloque National métamatériaux, 2013, France. pp.100, 2013
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2012

Journal articles

titre
Investigation on the Single Event Burnout Sensitive Volume Using Two-Photon Absorption Laser Testing
auteur
Frédéric Darracq, Nogaye Mbaye, Stephane Azzopardi, Vincent Pouget, E. Lorfèvre, F. Bezerra, Dean Lewis
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2012, 59 (4), pp.999-1006. <10.1109/TNS.2012.2192449>
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titre
Towards left-handed metamaterials using single-size dielectric resonators: The case of TiO2-disks at millimeter wavelengths
auteur
Riad Yahiaoui, U-Chan Chung, Catherine Elissalde, Mario Maglione, Valérie Vigneras, Patrick Mounaix
article
Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2012, 101 (4), pp.042909 (1-4). <10.1063/1.4739498>
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titre
Ionic Polarization Occurrence in BaSrTiO3 Thin Film by THz-Time Domain Spectroscopy
auteur
Grégory Houzet, Karine Blary, Sylvie Lépilliet, Didier Lippens, Ludovic Burgnies, Gabriel Vélu, Jean-Claude Carru, Edwin Nguema Agnandji, Patrick Mounaix
article
Ferroelectrics, Taylor & Francis: STM, Behavioural Science and Public Health Titles, 2012, 430 (1), pp.36-41. <10.1080/00150193.2012.677682>
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titre
Terahertz radiation for tomographic inspection
auteur
Benoît Recur, Jean Paul Guillet, Lena Bassel, Carole Fragnol, Inka Manek-Hönninger, Jean-Christophe Delagnes, William Benharbone, Pascal Desbarats, Jean-Philippe Domenger, Patrick Mounaix
article
Optical Engineering, SPIE, 2012, 51 (9), pp.091609-1 -- 091609-7. <10.1117/1.OE.51.9.091609>
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00699947/file/091609_1_1337638728_1.pdf BibTex
titre
Ultrafast carrier response of Br+-irradiated In0.53Ga0.47As excited at telecommunication wavelengths
auteur
L. Fekete, H. Nemec, Z. Mics, F. Kadlec, P. Kuzel, Vit Novak, J. Lorincik, M. Martin, Juliette Mangeney, Jean-Christophe Delagnes, Patrick Mounaix
article
Journal of Applied Physics, American Institute of Physics, 2012, 111 (9), pp.093721 (1-8). <10.1063/1.4709441>
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titre
Investigation of spatial filters at microwave frequencies: Application for antenna directivity enhancement
auteur
Riad Yahiaoui, Shah Nawaz Burokur, Valérie Vigneras, André De Lustrac, Patrick Mounaix
article
Microwave and Optical Technology Letters, Wiley, 2012, 54 (5), pp.1327-1332. <10.1002/mop.26752>
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titre
Metalo-dielectric structure with negative refractive index for millimeter applications
auteur
Riad Yahiaoui, Valérie Vigneras, Patrick Mounaix
article
International Journal of Remote Sensing Applications, 2012, 2 (1), pp.46-49
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titre
Propagation Beam Consideration for 3D THz Computed Tomography
auteur
Benoît Recur, Jean-Paul Guillet, Inka Manek-Hönninger, Jean-Christophe Delagnes, William Benharbone, Pascal Desbarats, Jean-Philippe Domenger, Lionel Canioni, Patrick Mounaix
article
Optics Express, Optical Society of America, 2012, 20 (5), pp.5817-5829. <10.1364/OE.20.005817>
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00672679/file/main.pdf BibTex
titre
Resonant magnetic response of TiO2 microspheres at terahertz frequencies
auteur
H. Nemec, C. Kadlec, F. Kadlec, P. Kuzel, Riad Yahiaoui, U-Chan Chung Seu, Catherine Elissalde, Mario Maglione, Patrick Mounaix
article
Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2012, 100 (6), pp.061117 (1-4). <10.1063/1.3683540>
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titre
Coupling and propagation of Sommerfeld waves at 100 and 300 GHz
auteur
Jean-Paul Guillet, Laurent Chusseau
article
Journal of Infrared, Millimeter and Terahertz Waves, Springer Verlag, 2012, pp 174-182. <10.1007/s10762-011-9854-x>
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Conference papers

titre
Building the electrical model of the pulsed photoelectric laser stimulation of an NMOS transistor in 90nm technology
auteur
A Sarafianos, R Llido, O Gagliano, V Serradeil, Mathieu Lisart, V. Goubier, Jean-Max Dutertre, Assia Tria, Vincent Pouget, Dean Lewis
article
38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2012, Nov 2012, Phoenix, United States
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130636/file/HAL_ISTFA_2012_Building_the_electrical_model_of_the_Photoelectric_Laser_Stimulation_of_an_NMOS_transistor_in_90nm_technology.pdf BibTex
titre
Characterization and TCAD Simulation of 90nm Technology PMOS Transistor Under Continuous Photoelectric Laser Stimulation for Failure Analysis Improvement
auteur
R Llido, A Sarafianos, O Gagliano, V Serradeil, V Goubier, M Lisart, G Haller, Vincent Pouget, Dean Lewis, Jean-Max Dutertre, Assia Tria
article
38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2012, Nov 2012, Phoenix, United States
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130626/file/HAL_ISTFA_2012_Characterization_and_TCAD_Simulation_of_90nm_Technology_PMOS_Transistor_Under_Continuous_Photoelectric_Laser_Stimulation_for_Failure_Analysis_Improvement.pdf BibTex
titre
Metalo-dielectric metamaterial for millimeter applications
auteur
Riad Yahiaoui, Patrick Mounaix, Valérie Vigneras
article
European Microwave Conference, Oct 2012, Amsterdam, Netherlands. pp.100, 2012
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titre
Metasurfaces: characterization and application as Partially Reflecting Surfaces for directivity enhancement of patch antennas
auteur
Riad Yahiaoui, Shah Nawaz Burokur, Valérie Vigneras, André De Lustrac, Patrick Mounaix
article
META'12 - 3rd International Conference on Metamaterials, Photonic crystals and Plasmonics, Apr 2012, Paris, France. pp.100, 2012
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titre
Highly directive emission from a frequency selective surface based Fabry-Pérot cavity antenna
auteur
Riad Yahiaoui, Shah Nawaz Burokur, Valérie Vigneras, André De Lustrac, Patrick Mounaix
article
Highly directive emission from a frequency selective surface based Fabry-Pérot cavity antenna, Apr 2012, Bejaïa, Algeria. pp.100, 2012
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2011

Journal articles

titre
Investigation on the SEL Sensitive Depth of an SRAM Using Linear and Two-Photon Absorption Laser Testing
auteur
Emeric Faraud, V. Pouget, Kai Shao, Camille Larue, Frédéric Darracq, D. Lewis, A. Samaras, F. Bezerra, E. Lorfèvre, R. Ecoffet
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, 58 (6), pp.2637 - 2643. <10.1109/TNS.2011.2172222>
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BibTex
titre
Tunable THz metamaterials based on an array of paraelectric SrTiO3 rods
auteur
Riad Yahiaoui, H. Nemec, P. Kuzel, F. Kadlec, C. Kadlec, Patrick Mounaix
article
Applied Physics A, Springer Verlag, 2011, 103 (3), pp.689-692. <10.1007/s00339-011-6335-y>
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titre
Investigation on reconstruction methods applied to 3D terahertz computed tomography
auteur
Benoît Recur, A. Younus, S. Salort, Patrick Mounaix, B. Chassagne, P. Desbarats, J.-P. Caumes, Emmanuel Abraham
article
Optics Express, Optical Society of America, 2011, 19 (6), pp.5105-5117. <10.1364/OE.19.005105>
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titre
Spectroscopy and terahertz imaging for sigillography applications
auteur
Patrick Mounaix, Ayesha Younus, Jean-Christophe Delagnes, Emmanuel Abraham, Lionel Canioni, M. Fabre
article
Journal of the European Optical Society : Rapid publications, European Optical Society, 2011, 6, pp.11002 (4). <10.2971/jeos.2011.11002>
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titre
Theoretical and experimental investigations of easy made fishnet metamaterials at microwave frequencies
auteur
Riad Yahiaoui, Valérie Vigneras, Patrick Mounaix
article
Applied Physics A, Springer Verlag, 2011, pp.1. <10.1007/s00339-011-6334-z>
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BibTex
titre
Dielectric dispersion of BaSrTiO3 thin film from centimeter to submillimeter wavelengths
auteur
Grégory Houzet, Karine Blary, Sylvie Lépilliet, Didier Lippens, Ludovic Burgnies, Gabriel Vélu, Jean-Claude Carru, Edwin Nguema Agnandji, Patrick Mounaix
article
Journal of Applied Physics, American Institute of Physics, 2011, 109 (1), pp.014116 (1-7). <10.1063/1.3531534>
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titre
L'évolution disciplinaire des sciences de l'information : des technologies à l'ingénierie des usages
auteur
Bernard Claverie, Pascal Fouillat
article
Revue Internationale de Projectique -­ International Journal of Projectics, 2011, 6 (3), pp.79-106
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Conference papers

titre
Imaging the Single Event Burnout sensitive volume of vertical power MOSFETs using the laser Two-Photon Absorption technique
auteur
Frédéric Darracq, Nogaye Mbaye, Camille Larue, V. Pouget, Stephane Azzopardi, E. Lorfèvre, F. Bezerra, D. Lewis
article
12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), Sep 2011, Seville, Spain. pp.434-441, 2012, <10.1109/RADECS.2011.6131350>
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titre
Negative refractive index metamaterials for millimetre applications
auteur
Riad Yahiaoui, Valérie Vigneras, Patrick Mounaix
article
Journées Terahertz, May 2011, Montpellier, France. pp.100, 2011
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titre
All dielectric metamaterials at terahertz regime
auteur
Riad Yahiaoui, Valérie Vigneras, U-Chan Chung, Mario Maglione, Catherine Elissalde, Sylvain Lannebere, Ashod Aradian, Patrick Mounaix
article
Journée Terahertz, May 2011, Montpellier, France. pp.100, 2011
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titre
Métamatériaux entièrement diélectriques et nouvelle approche de caractérisation en bande térahertz
auteur
Riad Yahiaoui, Valérie Vignéras, U-Chan Chung, Mario Maglione, Catherine Elissalde, Sylvain Lannebère, Ashod Aradian, Patrick Mounaix
article
Journées Nationales Microondes, May 2011, Brest, France. pp.100, 2011
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titre
Métamatériaux à base de microparticules de TiO2 dans la gamme térahertz
auteur
Riad Yahiaoui, Valérie Vignéras, U-Chan Chung, Mario Maglione, Catherine Elissalde, Sylvain Lannebère, Ashod Aradian, Patrick Mounaix
article
Journées Nationales Microondes,, May 2011, Brest, France. pp.100, 2011
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titre
Métamatériaux entièrement dielectriques pour applications submillimétriques
auteur
Riad Yahiaoui, Valérie Vignéras, U-Chan Chung, Mario Maglione, Catherine Elissalde, Sylvain Lannebère, Ashod Aradian, Patrick Mounaix
article
Colloque National Métamatériaux, Mar 2011, Paris, France. pp.100, 2011
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titre
Métamatériaux compatibles avec les techniques de fabrication de masse pour applications en bande millimétrique
auteur
Riad Yahiaoui, Valérie Vigneras, Patrick Mounaix
article
Colloque National Métamatériaux, Mar 2011, Paris, France. pp.100, 2011
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BibTex
titre
Artificial magnetism in Titanium Dioxide (TiO2) microparticles array for terahertz applications
auteur
Riad Yahiaoui, Patrick Mounaix, Valérie Vigneras, U-Chan Chung, Mario Maglione, Catherine Elissalde, Sylvain Lannebere, Achod Aradian
article
NANOMETA-2011, 3rd International Topical Meeting on Nanophotonics and Metamaterials, Seefeld ski resort, Jan 2011, Seefeld ski resort, Austria. pp.20-23, 2011
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titre
Amélioration de la directivité d'antennes imprimées
auteur
Riad Yahiaoui, Shah Nawaz Burokur, Valérie Vigneras, André De Lustrac, Patrick Mounaix
article
GDR ondes, 2011, Nice, France
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2010

Journal articles

titre
CADless laser assisted methodologies for failure analysis and device reliability
auteur
Amjad Deyine, Kevin Sanchez, Philippe Perdu, F. Battistella, Dean Lewis
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2010, 50 (9-11), pp.1236-1240
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BibTex
titre
Optical phase detection in a 4-N,N-dimethylamino-4′-N′-methyl-stilbazolium tosylate crystal for terahertz time domain spectroscopy system at 1.55 μm wavelength
auteur
M. Martin, Juliette Mangeney, Paul Crozat, Patrick Mounaix
article
Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2010, 97 (11), pp.111112 (1-3). <10.1063/1.3490706>
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titre
Facing the defect characterization and localization challenges of bridge defects on submicronic technology (45nm and below)
auteur
Guillaume Celi, Sylvain Dudit, Philippe Perdu, Antoine Reverdy, Thierry Parrassin, Emmanuel Bechet, Dean Lewis, Michel Vallet
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2010, pp.1499-1205. <10.1016/j.microrel.2010.07.115>
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BibTex
titre
Magnetic microscopy for ground plane current detection: a fast and reliable technique for current leakage localization by means of magnetic simulation
auteur
F. Infante, Philippe Perdu, Dean Lewis
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2010, pp.1700-1705. <10.1016/j.microrel.2010.07.109>
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BibTex
titre
Refraction losses in terahertz computed tomography
auteur
Emmanuel Abraham, Ayesha Younus, Cédric Aguerre, Pascal Desbarats, Patrick Mounaix
article
Optics Communications, Elsevier, 2010, 283 (10), pp.2050-2055
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BibTex
titre
Non-invasive investigation of art paintings by terahertz imaging
auteur
Emmanuel Abraham, Ayesha Younus, Jean-Christophe Delagnes, Patrick Mounaix
article
Applied Physics A, Springer Verlag, 2010, 100 (3), pp.585-590. <10.1007/s00339-010-5642-z>
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Conference papers

titre
Magnetic microscopy for 3D structures: use of the Simulation Approach for the precise localization of deep buried weak currents
auteur
Fulvio Infante, Rodolphe Gomes, Philippe Perdu, Fabien Battistella, Sébastien Annereau, Dean Lewis
article
36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, Nov 2010, Addison, United States. pp.71-78, 2010
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titre
Dynamic power analysis under laser stimulation: a new Dynamic Laser Simulation approach
auteur
Amjad Deyine, Philippe Perdu, K. Sanchez, J.C. Courrège, Dean Lewis
article
36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, Nov 2010, Addison, United States. pp.71-78, 2010
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BibTex
titre
Facing the defect characterization and localization challenges of bridge defects on submicronic technology (45nm and below)
auteur
Guillaume Celi, Sylvain Dudit, Philippe Perdu, A. Reverdy, T. Parrassin, E. Bechet, Dean Lewis, M. Vallet
article
20th European Symposium Reliability on Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) 2010, Oct 2010, Monteccassino, Italy. pp.1, 2010
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BibTex
titre
Magnetic microscopy for ground plane current detection: a fast and reliable technique for current leakage localization by means of magnetic simulation
auteur
F. Infante, Philippe Perdu, Dean Lewis
article
20th European Symposium Reliabilty on Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) 2010, Oct 2010, Monteccassino, Italy. pp.1, 2010
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BibTex
titre
Approches théorique et expérimentale de dispositifs planaires pour des applications de filtrage spatial en bande millimétrique
auteur
Riad Yahiaoui, Valérie Vignéras, Patrick Mounaix
article
Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique, Jun 2010, Montpellier, France. pp.100, 2010
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BibTex
titre
Terahertz and far-infrared response of BaxSr1-xTiO3 films
auteur
P. Kuzel, E. Simon, T. Ostapchuk, J. Hlinka, S. Kamba, Edwin Nguema Agnandji, Patrick Mounaix, Jean-Claude Carru, Gabriel Vélu
article
Czech-Polish Seminar 2010 on Structural and Ferroelectric Phase Transitions, May 2010, Telč, Czech Republic. 83 (10-11), pp.966-973, 2011, <10.1080/01411594.2010.509608>
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BibTex
titre
Caractérisation de métamatériaux à indice de réfraction négatif en bande millimétrique
auteur
Riad Yahiaoui, Valérie Vignéras, Patrick Mounaix
article
Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, Mar 2010, Brest, France. pp.100, 2010
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BibTex
titre
Theoretical and experimental investigations of easy made fishnet metamaterials at microwave frequencies
auteur
Riad Yahiaoui, Valérie Vigneras, Patrick Mounaix
article
META'10 2nd International Conference on Metamaterials, Photonic crystals and Plasmonics, Feb 2010, Caire, Egypt. pp.10-15, 2010
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BibTex
titre
Theoretical and experimental investigations of easy made fishnet metamaterials at microwave frequencies
auteur
Riad Yahiaoui, Valérie Vignéras, Patrick Mounaix
article
META'10 2nd International Conference on Metamaterials, Feb 2010, Le Caire, Egypt. pp.100, 2010
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BibTex

Theses

titre
Développement d'un système de microscopie en champ proche térahertz
auteur
Jean-Paul Guillet
article
Electromagnétisme. Université de Montpellier, 2010. Français
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2009

Journal articles

titre
Broadband dielectric terahertz metamaterials with negative permeability
auteur
Riad Yahiaoui, H. Nemec, P. Kuzel, F. Kadlec, C. Kadlec, Patrick Mounaix
article
Optics Letters, Optical Society of America, 2009, 34 (22), pp.3541-3. <10.1364/OL.34.003541>
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BibTex
titre
High photocarrier mobility in ultrafast ion-irradiated In_{0.53}Ga_{0.47}As for terahertz applications
auteur
Jean-Christophe Delagnes, Patrick Mounaix, H. Nemec, L. Fekete, F. Kadlec, P. Kuzel, M. Martin, Juliette Mangeney
article
Journal of Physics D: Applied Physics, IOP Publishing, 2009, 42 (19), pp.195103 (1-6). <10.1088/0022-3727/42/19/195103>
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BibTex
titre
Tunable terahertz metamaterials with negative permeability
auteur
H. Nemec, P. Kuzel, F. Kadlec, Christelle Kadlec, R. Yahiaoui, Patrick Mounaix
article
Physical Review B : Condensed matter and materials physics, American Physical Society, 2009, 79 (24), pp.241108 (1-4). <10.1103/PhysRevB.79.241108>
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BibTex
titre
CMOS Resizing Methodology for Analog Circuits
auteur
Timothée Levi, Jean Tomas, Noëlle Lewis, Pascal Fouillat
article
IEEE Design & Test of Computers, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, 26 (1), pp. 78-87, doi:10.1109
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BibTex
titre
Terahertz dielectric characterisation of photopolymer resin used for fabrication of 3D THz imaging phantoms
auteur
A. Younus, Pascal Desbarats, Sandra Bosio, Emmanuel Abraham, Jean-Christophe Delagnes, Patrick Mounaix
article
Electronic Letters, 2009, 45 (13), pp.702-703. <10.1049/el.2009.0688>
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BibTex
titre
Pervasion, transparence et cognition augmentée
auteur
Bernard Claverie, Véronique Lespinet-Najib, Pascal Fouillat
article
Revue des Interactions Humaines Médiatisées (RIHM) = Journal of Human Mediated Interactions, Europia, 2009, 10 (2), pp.85-99
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BibTex
titre
L'innovation comme moteur d'évolution des technologies de l'information ; vers un rapprochement des techniques et des usages
auteur
Bernard Claverie, Pascal Fouillat
article
I-Revues - Edition Electronique de l'INIST - Information, innovation et interdisciplinarité, 2009, http://documents.irevues.inist.fr/handle/2042/28892
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BibTex
titre
Broadband terahertz imaging of documents written with lead pencils
auteur
Emmanuel Abraham, A. Younus, Abdelouahad El Fatimy, Jean-Christophe Delagnes, Edwin Nguema Agnandji, Patrick Mounaix
article
Optics Communications, Elsevier, 2009, 282, pp.3104-3107. <10.1016/j.optcom.2009.04.039>
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titre
Plasma wave field effect transistor as a resonant detector for 1 terahertz imaging applications
auteur
Abdelouahad El Fatimy, Jean-Christophe Delagnes, A. Younus, Edwin Nguema Agnandji, Frédéric Teppe, Wojciech Knap, Emmanuel Abraham, Patrick Mounaix
article
Optics Communications, Elsevier, 2009, 282, pp.3055-3058. <10.1016/j.optcom.2009.04.054>
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Conference papers

titre
Métamatériaux à indice de réfraction négatif en bande millimétrique
auteur
Riad Yahiaoui, Valérie Vignéras, Patrick Mounaix
article
Journée de l'IPF, Nov 2009, Bordeaux, France
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titre
Magnetic Microscopy for 3D devices: defect localization with high resolution and long working distance on complex System in Package
auteur
F. Infante, Philippe Perdu, Dean Lewis
article
19th European Symposium Reliability on Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) 2009, Oct 2009, Arcachon, France. pp.1, 2009
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titre
Net integrity checking by optical localization techniques
auteur
G. Haller, A. Machouat, Dean Lewis, Vincent Pouget
article
19th European Symposium Reliability on Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) 2009, Oct 2009, Arcachon, France. pp.1, 2009
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titre
Investigation of single event burnout sensitive depth in power MOSFETS
auteur
Frédéric Darracq, V. Pouget, D. Lewis, P. Fouillat, E. Lorfèvre, R. Ecoffet, F. Bezerra
article
2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS),, Sep 2009, Bruges, Belgium. pp.106 - 111, 2009
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titre
Short circuit localization on integrated circuits using magnetic microscopy techniques coupled to simulations
auteur
F. Infante, Philippe Perdu, S. Petremont, Dean Lewis
article
16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Jul 2009, Suzhou, China. pp.1, 2009
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titre
Structures métal diélectrique microusinées par laser pour applications à 600 GHz
auteur
Riad Yahiaoui, Laurent Oyhenart, Valérie Vignéras, Patrick Mounaix
article
Journées TeraHertz, Jun 2009, Lille, France. pp.100, 2009
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titre
Conception de structures de type " fishnet " pour une fonctionnalité en haut de bande millimétrique
auteur
Riad Yahiaoui, Laurent Oyhenart, Valérie Vignéras, Patrick Mounaix
article
Journée Nationales Micro-ondes, May 2009, Grenoble, France. pp.100, 2009
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Book sections

titre
Pour un rapprochement des technologies et des usages : le futur du pôle TIC de Bordeaux
auteur
Pascal Fouillat, Bernard Claverie
article
Institut des Sciences de la Communication du CNRS. Pour une nouvelle recherche - Manifeste, Nice : Editions Ovadia, pp.93-99, 2009, La petite collection : Paradoxe et complexité
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2008

Journal articles

titre
Evaluation of Recent Technologies of Nonvolatile RAM
auteur
T. Nuns, S. Duzellier, J. Bertrand, G. Hubert, V. Pouget, Frédéric Darracq, J.P David, S. Soonckindt
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, 55 (4), pp.1982 - 1991. <10.1109/TNS.2008.920255>
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titre
Materials with on-demand refractive indices in the terahertz range
auteur
Christelle Kadlec, F. Kadlec, P. Kuzel, K. Blary, Patrick Mounaix
article
Optics Letters, Optical Society of America, 2008, 33 (19), pp.2275-2277
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titre
Far infrared absorption and terahertz time domain spectroscopy of liquid CS2: experiments and molecular dynamics simulation
auteur
Yann Danten, Marcel Besnard, Jean-Christophe Delagnes, Patrick Mounaix
article
Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2008, 92 (21), pp.214102 1-3. <10.1063/1.2936935>
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titre
Propriétés d'un polymère conducteur aux fréquences terahertz
auteur
Patrick Mounaix, Jean-Christophe Delagnes, Edwin Nguema Agnandji, Valerie Vigneras, Jean-Louis Miane
article
La Revue de l'Electricité et de l'Electronique, Société de l'Électricité, de l'Électronique et des Technologies de l'Information et de la Communication, 2008, 1, pp.59, 76-79
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titre
Study of Single Event Transients in High-Speed Operational Amplifiers
auteur
Patrice Jaulent, Vincent Pouget, Dean Lewis, Pascal Fouillat
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, 55 (4), pp.1974-1981
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titre
Dielectric properties of conducting polyaniline films by THz time-domain spectroscopy
auteur
Edwin Nguema Agnandji, Valérie Vigneras, Jean-Louis Miane, Patrick Mounaix
article
European Polymer Journal, Elsevier, 2008, 44, pp.125-129. <10.1016/j.eurpolymj.2007.10.020>
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titre
Failure Analysis enhancement by evaluating the Photoelectric Laser Stimulation impact on mixed-mode ICs
auteur
Magdalena Sienkiewicz, Philippe Perdu, Abdellatif Firiti, Kevin Sanchez, Olivier Crepel, Dean Lewis
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2008, 48, pp.1529-1532
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titre
Effect of physical defect on shmoos in CMOS DSM technologies
auteur
A. Machouat, G. Haller, V. Goubier, Dean Lewis, Philippe Perdu, Vincent Pouget, Pascal Fouillat, Fabien Essely
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2008, 48, pp.1333-1338
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Conference papers

titre
Scan-based ATPG diagnostic and optical techniques combination: A new approach to improve accuracy of defect isolation in functional logic failure
auteur
A. Machouat, G. Haller, V. Goubier, Dean Lewis, Vincent Pouget, Pascal Fouillat, Fabien Essely, Philippe Perdu
article
15th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Jul 2008, Singapour, Singapore. pp.1-5, 2008
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titre
Effect of Physical defect on schmoos in CMOS DSM technologies
auteur
A. Machouat, G. Haller, V. Goubier, Dean Lewis, Philippe Perdu, Vincent Pouget, Pascal Fouillat, Fabien Essely
article
European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), 2008, Maastricht, Netherlands. pp.25-32, 2008
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titre
Failure Analysis enhancement by evaluating the photoelectric laser stimulation impact on mixed-mode ICs
auteur
Magdalena Sienkiewicz, Philippe Perdu, Abdellatif Firiti, Kevin Sanchez, Olivier Crepel, Dean Lewis
article
European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), 2008, Maastricht, Netherlands. pp.12-16, 2008
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titre
Dynamic Laser Stimulation Technique for device qualification process
auteur
A. Deyne-Barth, Philippe Perdu, G. Benetti, Kevin Sanchez, F. Battistella, Dean Lewis
article
International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA), 2008, France. pp.23-28, 2008
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titre
SET sensitive volume imaging and measurement with two-photon absorption laser testing
auteur
Patrice Jaulent, Vincent Pouget, D. Mcmorrow, F. Bezerra, Pascal Fouillat, Dean Lewis
article
Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), 2008, Tucson, United States
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titre
Failure analysis enhancement by evaluating the thermal laser stimulation impact on analog ICs
auteur
Magdalena Sienkiewicz, Philippe Perdu, Abdellatif Firiti, Olivier Crepel, Dean Lewis
article
International Symposium on the Physical and Failure Analysis on Integrated Circuits (IPFA), 2008, Suzhou, China. pp.1-6, 2008
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titre
Failure analysis of advanced CMOS technology: some trends, state of the art and future challenges
auteur
Philippe Perdu, Dean Lewis, V. Pouget
article
European Symposium on Reliability of Electron Devices (ESREF), 2008, Maastricht, Netherlands
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2007

Journal articles

titre
Optimizing pulsed OBIC technique for ESD defect localization
auteur
Fabien Essely, Nicolas Guitard, Frédéric Darracq, Vincent Pouget, Marise Bafleur, Philippe Perdu, Andre Touboul, Dean Lewis
article
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, 7 (4), pp.617-624
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00382949/file/essely-TDMR07.pdf BibTex
titre
Shielding effectiveness in terahertz domain of monolayer-doped polyaniline film
auteur
Edwin Nguema Agnandji, Valérie Vigneras, Jean-Louis Miane, Patrick Mounaix
article
Electronic Letters, 2007, 43 (23), pp.XX
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titre
IP-based design for analogue ASICs: A case study
auteur
Timothée Levi, Noëlle Lewis, Jean Tomas, Pascal Fouillat
article
Einfochips Dashboard, 2007, 4, pp.Issue V
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titre
In-depth resolution for LBIC technique by two-photon absorption
auteur
Dong Yun Wan, Vincent Pouget, Alexandre Douin, Patrice Jaulent, Dean Lewis, Pascal Fouillat
article
Semiconductors, 2007, 41 (4), pp.371-375, 10.1134/S106378260704001X. <10.1134/S106378260704001X>
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titre
Spectroscopie et imagerie THz dans le domaine temporel
auteur
Patrick Mounaix
article
La Revue de l'Electricité et de l'Electronique, Société de l'Électricité, de l'Électronique et des Technologies de l'Information et de la Communication, 2007, 11, pp.70, 72-80
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Conference papers

titre
Evaluation of Recent Technologies of Non-Volatile RAM
auteur
T. Nuns, S. Duzellier, J. Bertrand, G. Hubert, Vincent Pouget, Frédéric Darracq, J.P. David, S. Soonckindt
article
9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Sep 2007, Deauville, France. pp.1-8, 2007
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titre
Study of Single Event Transients in High-Speed Operational Amplifiers
auteur
Patrice Jaulent, Vincent Pouget, Dean Lewis, Pascal Fouillat
article
9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Sep 2007, Deauville, France. pp.97-103, 2007
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titre
IC Debug and Defect Localization using Dynamic Laser Stimulation and Time-Resolved Emission
auteur
Julie Ferrigno, Philippe Perdu, Kevin Sanchez, Dean Lewis, Michel Vallet, Sylvain Dudit
article
14th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) 2007, Jul 2007, Bangalore, India. IEEE, pp.229-234, 10.1109/IPFA.2007.4378090, 2007, <10.1109/IPFA.2007.4378090>
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titre
Jitter Improvement of Time-Resolved Photoelectric Laser Stimulation for Dynamic Imaging of Integrated Circuits
auteur
Alexandre Douin, Vincent Pouget, Dean Lewis, Pascal Fouillat, Philippe Perdu
article
Instrumentation and Measurement Technology Conference 2007, May 2007, Varsovie, Poland. pp.1-5, 10.1109/IMTC.2007.379080, 2007, <10.1109/IMTC.2007.379080>
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titre
Picosecond Timing Analysis in Integrated Circuits with Pulsed Laser Stimulation
auteur
Alexandre Douin, Vincent Pouget, Dean Lewis, Pascal Fouillat, Philippe Perdu
article
45th annual ieee International Reliability Physics Symposium (IRPS), Apr 2007, Phoenix, United States. pp.520-525, 10.1109/RELPHY.2007.369945, 2007, <10.1109/RELPHY.2007.369945>
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titre
Failure Localization and design debug on mixed-mode ICs by using the dynamic laser stimulation techniques
auteur
Magdalena Sienkiewicz, Kevin Sanchez, Abdellatif Firiti, Olivier Crepel, Philippe Perdu, Dean Lewis
article
International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA) 2007, 2007, San Jose, United States. pp.86-92, 2007
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titre
Single Event Transient Mapping of a Voltage-Controlled Oscillator
auteur
Vincent Pouget, W. Chen, Dean Lewis, H. J. Barnaby, Pascal Fouillat
article
16th Single-Event Effects Symposium, 2007, Long Beach, United States
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titre
Linear Systems Analysis of Single Event Transients in Voltage Controlled Oscillators
auteur
N. Varanasi, W. Chen, B. Vermeire, P.C. Adell, Vincent Pouget, Pascal Fouillat, H. J. Barnaby
article
16th Single-Event Effects Symposium, 2007, Long Beach, United States
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titre
Impact of VCO Topology on SET Induced Frequency Response
auteur
W. Chen, N. Varanasi, Vincent Pouget, H. J. Barnaby, B. Vermeire, P.C. Adell, T. Copani, Pascal Fouillat
article
Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC) 2007, 2007, Honolulu, United States
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Book sections

titre
Using the SEEM software for SET testing and analysis
auteur
Vincent Pouget, Pascal Fouillat, Dean Lewis
article
Radiation Effects on Embedded Systems, Springer, pp.259-268, 2007
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Directions of work or proceedings

titre
Radiation Effects on Embedded Systems
auteur
Raoul Velazco, Pascal Fouillat, Ricardo Da Luz Reis
article
Springer, pp.269, 2007
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2006

Journal articles

titre
Application of various optical techniques for ESD defect localization
auteur
Fabien Essely, Frédéric Darracq, Vincent Pouget, Mustapha Remmach, Félix Beaudoin, Nicolas Guitard, Marise Bafleur, Philippe Perdu, Andre Touboul, Dean Lewis
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2006, 46 (9-11), pp.1563-1568, 10.1016/j.microrel.2006.07.021. <10.1016/j.microrel.2006.07.021>
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titre
Time resolved imaging using synchronous picosecond Photoelectric Laser Stimulation
auteur
Alexandre Douin, Vincent Pouget, Magali De Matos, Dean Lewis, Philippe Perdu, Pascal Fouillat
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2006, 46 (9-11), pp.1514-1519, 10.1016/j.microrel.2006.07.028. <10.1016/j.microrel.2006.07.028>
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titre
Influence of Laser Pulse Duration in Single Event Upset Testing
auteur
Alexandre Douin, Vincent Pouget, Frédéric Darracq, Dean Lewis, Pascal Fouillat, Philippe Perdu
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, 53 (4), pp.1799-1805, 10.1109/TNS.2006.880939. <10.1109/TNS.2006.880939>
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titre
Evaluation of SRAMs reliability for space electronics using ultrashort laser pulses
auteur
Frédéric Darracq, Herve Lapuyade, Pascal Fouillat, Vincent Pouget, Dean Lewis, Yves Danto
article
Journal of Integrated Circuits and Systems, Brazilian Microelectronics Society, 2006, 1 (3), pp.11 -16
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titre
One-dimensional tunable photonic crystals with spin crossover material for the terahertz range
auteur
Patrick Mounaix, Eric Freysz, Jérôme Degert, Nathalie Daro, Jean-François Letard, P. Kuzel, Valérie Vigneras, Laurent Oyhenart
article
Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2006, vol. 89 (n° 17), p. 174105. <10.1063/1.2369535>
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titre
A Radiation-Hardened Injection Locked Oscillator Devoted to Radio-Frequency Applications
auteur
Hervé Lapuyade, Vincent Pouget, Jean-Baptiste Begueret, Patrick Hellmuth, Thierry Taris, Olivier Mazouffre, Pascal Fouillat, Yann Deval
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, 53, pp.1
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titre
Radiation Hardened by Design RF Circuits Implemented in 0.13µm CMOS Technology
auteur
W. Chen, Vincent Pouget, G.K. Gentry, H. J. Barnaby, B. Vermeire, B. Bakkaloglu, K. Kiaei, K.E. Holbert, Pascal Fouillat
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, 53 (6), pp.3449-3454. <10.1109/TNS.2006.885009>
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titre
One-dimensional tunable photonic crystals with spin crossover material for the terahertz range
auteur
Patrick Mounaix, Eric Freysz, Jérôme Degert, Nathalie Daro, Jean-François Létard, P. Kuzel, V. Vigneras, L. Oyenhart
article
Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2006, vol. 89, n° 17, p. 174105 (3 p.). <10.1063/1.2369535>
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Conference papers

titre
Dynamic optical techniques for IC debug and failure analysis
auteur
Julie Ferrigno, Romain Desplats, Philippe Perdu, Kevin Sanchez, Félix Beaudoin, Dean Lewis
article
13th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) 2006, Jul 2006, Singapour, Singapore. IEEE, pp.320-326, 10.1109/IPFA.2006.250980, 2006, <10.1109/IPFA.2006.250980>
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titre
Optimizing pulsed OBIC technique for ESD defect localization
auteur
Fabien Essely, Nicolas Guitard, Frédéric Darracq, Vincent Pouget, Marise Bafleur, Philippe Perdu, Andre Touboul, Dean Lewis
article
13th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Jul 2006, Singapour, Singapore. IEEE, pp.270-275, 10.1109/IPFA.2006.251044, 2006, <10.1109/IPFA.2006.251044>
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titre
Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for single-event effects testing
auteur
D. Mcmorrow, Vincent Pouget, Pascal Fouillat, Frédéric Darracq, S. Buchner, Dean Lewis
article
School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Application (SERESSA), 2006, Séville, Spain. 2006
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titre
Time resolved imaging using synchronous picosecond photoelectric laser stimulation
auteur
Alexandre Douin, Vincent Pouget, Magali De Matos, Dean Lewis, Philippe Perdu, Pascal Fouillat
article
European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), 2006, Wuppertal, Germany. pp.1519-1541, 2006
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titre
In-depth resolution for LBIC technique by two-photon absorption
auteur
Dong Yun Wan, Vincent Pouget, Alexandre Douin, Patrice Jaulent, Dean Lewis, Pascal Fouillat
article
Beam Injection Assessment of Microstructurs in Semiconductors (BIAMS), 2006, Saint Petersbourg, Russia. pp.56-58, 2006
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titre
Recent developments for SEE testing at the ATLAS laser facility
auteur
Vincent Pouget, Dong Yun Wan, Patrice Jaulent, Alexandre Douin, Dean Lewis, Pascal Fouillat
article
15th Single-Event Effects Symposium, 2006, Long Beach, United States
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titre
Single Event Transients (SETs) in RF Circuits
auteur
N. Varanasi, W. Chen, H. J. Barnaby, B. Vermeire, J. Cressler, Herve Lapuyade, Vincent Pouget, Pascal Fouillat
article
15th Single-Event Effects Symposium, 2006, Long Beach, United States
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titre
A Review and some Future Prospects on Laser-Based Techniques for Single-Event Effects Testing and Analysis
auteur
Pascal Fouillat, Vincent Pouget, Dean Lewis, Frédéric Darracq
article
International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Applications (RASEDA), 2006, Tokyo, Japan
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titre
Applications of various optical techniques for ESD defect localization
auteur
Fabien Essely, Frédéric Darracq, Vincent Pouget, Mustapha Remmach, Félix Beaudoin, Nicolas Guitard, Marise Bafleur, Philippe Perdu, Andre Touboul, Dean Lewis
article
European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and analysis (ESREF), 2006, wuppertal, Germany. pp.1563-1568, 2006
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2005

Journal articles

titre
Implementing laser-based failure analysis methodologies using test vehicles
auteur
Dean Lewis, Vincent Pouget, Félix Beaudoin, G. Haller, Phillipe Perdu, Pascal Fouillat
article
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2005, pp.279-288
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titre
High-Frequency response in ferroelectric BaSrTiO3 thin films studied by terahertz time-domain spectroscopy
auteur
Patrick Mounaix, Marc Tondusson, Laurent Sarger, Dominique Michau, Vincent Reymond, Mario Maglione
article
Japanese Journal of Applied Physics, part 1 : Regular papers, Short Notes, 2005, 44 (7A), p. 5058-5061. <10.1143/JJAP.44.5058>
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BibTex
titre
Scanning laser ultrasonics experiments for in-situ non-destructive analysis of integrated circuits
auteur
Grégory Andriamonje, Vincent Pouget, Yves Ousten, Dean Lewis, Bernard Plano, Yves Danto
article
IEEE Transactions on Device and Material Reliability, 2005, 1, pp.1
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BibTex
titre
Dielectric characterization of [Fe(NH2–trz)3]Br2H2O thermal spin crossover compound by terahertz time domain spectroscopy
auteur
Patrick Mounaix, Noëlle Lascoux, Jérôme Degert, Eric Freysz, A. Kobayashi, Nathalie Daro, Jean-François Létard
article
Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2005, vol. 87, n° 24, 244103 (3 p.). <10.1063/1.2143123>
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BibTex
titre
Impact of semiconductors material on IR Laser Stimulation signal
auteur
Abdellatif Firiti, Félix Beaudoin, G. Haller, Philippe Perdu, Dean Lewis, Pascal Fouillat
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2005, 45, pp.1465-1470
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BibTex
titre
Different Failure signatures of multiple TLP and HBM Stresses in an ESD robust protection structure
auteur
Nicolas Guitard, Fabien Essely, David Trémouilles, Marise Bafleur, Nicolas Nolhier, Phillipe Perdu, Andre Touboul, Vincent Pouget, Dean Lewis
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2005, 45 (9), pp.1415-1420
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titre
NIR Laser stimulation for dynamic timing analysis
auteur
Kevin Sanchez, Romain Desplats, Félix Beaudoin, Philippe Perdu, J.P. Roux, Dean Lewis
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2005, pp.1459-1464
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BibTex
titre
Light Emission To time resolved emission for IC debug and failure analysis
auteur
Mustapha Remmach, A. Pigozzi, Romain Desplats, Philippe Perdu, Dean Lewis, J. Noel, Sylvain Dudit
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2005, 5, pp.1476-1481
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Conference papers

titre
Influence of Laser Pulse Duration in Single Event Upset Testing
auteur
Alexandre Douin, Vincent Pouget, Frédéric Darracq, Dean Lewis, Pascal Fouillat, Phillipe Perdu
article
8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) 2005, Sep 2005, Cap d'Agde, France. pp.1-7, 2005
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BibTex
titre
Electrical Modeling for Laser Testing with Different Pulse Durations
auteur
Alexandre Douin, Vincent Pouget, Dean Lewis, Pascal Fouillat, Phillipe Perdu
article
11th IEEE International On Line Testing Symposium, Jul 2005, Saint Raphael, France. pp.9-13, 2005
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BibTex
titre
Identification of Some Key Parameters for Photoelectric Laser Simulation of IC: An Experimental Approach
auteur
Phillipe Perdu, Romain Desplats, Kevin Sanchez, Félix Beaudoin, Dean Lewis, Vincent Pouget, Alexandre Douin, Pascal Fouillat
article
12th International Symposium on the Physical and Failure Analysis Circuits (IPFA), Jun 2005, Singapour, Singapore. pp.21-26, 2005
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BibTex
titre
Delay Variation Mapping Induced by Dynamic Laser Stimulation
auteur
Kevin Sanchez, Romain Desplats, Félix Beaudoin, Philippe Perdu, Dean Lewis, P. Vedagarbha
article
IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Apr 2005, Santa Clara, United States. pp.305-311, 2005
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BibTex
titre
NIR Laser stimulation for dynamic timing analysis
auteur
Kevin Sanchez, Romain Desplats, Félix Beaudoin, Philippe Perdu, J.P. Roux, Dean Lewis
article
European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and analysis (ESREF), 2005, arcachon, France. pp.1459-1464, 2005
Accès au bibtex
BibTex
titre
Light Emission to time resolved emission for IC debug and failure analysis
auteur
Mustapha Remmach, A. Pigozzi, Romain Desplats, Philippe Perdu, Dean Lewis, J. Noel, Sylvain Dudit
article
European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and analysis (ESREF), 2005, arcachon, France. pp.1476-1481, 2005
Accès au bibtex
BibTex
titre
Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for single-event upset testing
auteur
Pascal Fouillat, Vincent Pouget, D. Mcmorrow, Frédéric Darracq, S. Buchner, Dean Lewis
article
School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Application (SERESSA), 2005, Manaus, Brazil
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BibTex
titre
Impact of semiconductors material on IR stimulation signal
auteur
Abdellatif Firiti, Félix Beaudoin, G. Haller, Philippe Perdu, Dean Lewis, Pascal Fouillat
article
European Symposium of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), 2005, Arcachon, France. pp.1465-1470, 2005
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titre
Laser SEE Testing and Analysis Case Studies
auteur
Vincent Pouget, Pascal Fouillat, Dean Lewis
article
School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Application (SERESSA), 2005, Manaus, Brazil. 2005
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titre
Banc de génération et détection de faisceau THz par photo commutateur ultrarapide sur GaAs BT
auteur
Patrick Mounaix, M. Tondusson, Laurent Sarger, Alexandre Douin, Vincent Pouget, Dean Lewis, Pascal Fouillat
article
3ème journées Thz, 2005, Aussois, France
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titre
A Radiation-Hardened Injection Locked Oscillator Devoted to Radio-Frequency Applications
auteur
Hervé Lapuyade, Vincent Pouget, Jean-Baptiste Begueret, Patrick Hellmuth, Pascal Fouillat, Yann Deval
article
8th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS05), 2005, France. NC, pp.1, 2005
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titre
Intra-IC Inspection and Metrology with Picosecond Laser Ultrasonics
auteur
Grégory Andriamonje, Vincent Pouget, Yves Ousten, Dean Lewis, Pascal Fouillat, Yves Danto
article
22nd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC) 2005, 2005, Canada. NC, pp.1, 2005
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titre
Formations à distance en EEA : Le projet de Master première année M1 e-EEA
auteur
C. Chambrelan, N. Gervais, R. Grisel, R. Horn, Yves Danto, Pascal Fouillat, Claude Pellet, O. Bonnaud, D. Thouroude, G. Despaux, C. Glaize, Nicolas Nolhier, G. Ablart, Jacques Graffeuil, Fabrice Caignet, Alain Cazarré, D. Barbier, N. Abouchi, M. Jourlin, Patrick Garda
article
5ème Colloque sur l'Enseignement des Technologies et des Sciences de l'Information et des Systèmes, 2005, France. NC, pp.1, 2005
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titre
Different failure signatures of multiple TLP and HBM Stresses in an ESD robust protection structure
auteur
Nicolas Guitard, Fabien Essely, David Trémouilles, Marise Bafleur, Nicolas Nolhier, Philippe Perdu, Andre Touboul, Vincent Pouget, Dean Lewis
article
European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and analysis (ESREF), 2005, arcachon, France. pp.1415-1420, 2005
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2004

Journal articles

titre
Evaluation of SRAMS reliability for space electronics using ultra short laser pulses
auteur
Frédéric Darracq, Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat, Vincent Pouget, Dean Lewis, Yves Danto
article
Electrochemical Society, 2004, 1, pp.1
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Conference papers

titre
Sorting Out of Analogue IC Architectures using the DOE Method : a New Tool for Quality Design
auteur
Yann Deval, Jean Tomas, Pascal Fouillat, Jean-Paul Dom
article
proceeding ESREF 93, 2004, France
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titre
Evaluation of SRAMs Reliability for Space Electronics Using Ultra Short Laser Pulses
auteur
Frédéric Darracq, Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat, Vincent Pouget, Dean Lewis, Yves Danto
article
19th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro 2004), 2004, Brazil. NC, pp.1, 2004
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titre
Réalisation d un convertisseur 3 bits à 4 Géchantillons/s pour radiotélescopes en bande millimétrique et submillimétrique
auteur
David Deschans, Jean-Baptiste Begueret, Yann Deval, Pascal Fouillat, G. Montignac, Alain Baudry
article
Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation (C2I), 2004, France. NC, pp.1, 2004
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titre
Test chip for qualification of packaging assemblies
auteur
Jean-Yves Deletage, Hélène Fremont, Olivier Puig, Claude Pellet, Pascal Fouillat, Yves Danto
article
SBMicro 2004, 2004, Brazil. NC, pp.1, 2004
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titre
Structural Analysis of Integrated Circuits Using Scanning Laser Ultrasonics
auteur
Grégory Andriamonje, Vincent Pouget, Yves Ousten, Dean Lewis, Bernard Plano, Yves Danto
article
IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2004, United States. NC, pp.1, 2004
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titre
Structural Analysis of Integrated Circuits Using Scanning Laser Ultrasonics
auteur
Grégory Andriamonje, Vincent Pouget, Yves Ousten, Dean Lewis, Bernard Plano, Yves Danto
article
IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2004, United States. NC, pp.1, 2004
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titre
A 1.8 V 4.3 GHz SiGe Tunable Synchronous Oscillator
auteur
Jean-Baptiste Begueret, Yann Deval, Thierry Taris, Patrick Hellmuth, Olivier Mazouffre, Pascal Fouillat
article
IEEE Asian Pacific Microwave Conference (APMC'2002), 2004, Japan
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titre
Applications de l acoustique picoseconde à l analyse non destructive de circuits intégrés
auteur
J. M. Rampnoux, Y. Ezzahri, S. Dilhaire, S. Grauby, W. Claeys, C. Rossignol, B. Audoin, Grégory Andriamonje, Vincent Pouget, Yves Ousten, Dean Lewis
article
Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation (C2I), 2004, France. NC, pp.1, 2004
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2003

Journal articles

titre
Low-cost backside laser test method to pre-characterize the COTS IC's sensitivity to Single Event Effects
auteur
Frédéric Darracq, Hervé Lapuyade, N. Buard, Pascal Fouillat, R. Dufayel, T. Carriere
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2003, 43, pp.1
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titre
Application of Picosecond Ultrasonics to Non-Destructive Defect Analysis in VLSI Circuits
auteur
Grégory Andriamonje, Vincent Pouget, Yves Ousten, Dean Lewis, Yves Danto, J. M. Rampnoux, Y. Ezzahri, S. Dilhaire, S. Grauby, W. Claeys, C. Rossignol, B. Audoin
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2003, 1, pp.1
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Conference papers

titre
A Non-Linear Model to Express Laser-induced SRAM Cross-sections versus an Effective Laser LET
auteur
Frédéric Darracq, Hervé Lapuyade, Vincent Pouget, Pascal Fouillat
article
7th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), 2003, Netherlands. NC, pp.1, 2003
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2002

Journal articles

titre
Backside SEU laser testing for commercial off-the-shelf SRAMs
auteur
Frédéric Darracq, Herve Lapuyade, Nadine Buard, Faresse Mounsi, Bruno Foucher, Pascal Fouillat, M. C. Calvet, R. Dufayel
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002, 49 (6), pp.2977-2983, 10.1109/TNS.2002.805393. <10.1109/TNS.2002.805393>
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titre
Study of the interaction between Heavy Ions and Integrated Circuits using a Pulsed Laser Beam
auteur
Dean Lewis, Pascal Fouillat, Vincent Pouget, Hervé Lapuyade
article
European Physical Journal: Applied Physics, EDP Sciences, 2002, 20, pp.1
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titre
Evaluation of a Design Methodology Dedicated to Dose-Rate-Hardened Linear Integrated Circuits
auteur
Yann Deval, Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat, H. J. Barnaby, Frédéric Darracq, Renaud Briand, Dean Lewis, Rd Schrimpf
article
IEEE Transactions on Nuclear Sciences, 2002, 49, pp.1468-1473
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titre
Backside SEU Laser Testing for Commercial-Off-The-Shelf SRAM
auteur
Frédéric Darracq, Hervé Lapuyade, N. Buard, F. Mounsi, Bruno Foucher, Pascal Fouillat, M. C. Calvet, R. Dufayel
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002, 49, pp.1
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titre
Single-Event Sensitivity of a Single SRAM Cell
auteur
Frédéric Darracq, Thomas Beauchene, Vincent Pouget, Hervé Lapuyade, Dean Lewis, Pascal Fouillat, Andre Touboul
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002, 49, pp.1486-1490
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titre
A VLSI CMOS Delay Oriented Waveform Converter for Polyphase Frequency Synthesizer
auteur
Anne Spataro, Yann Deval, Jean-Baptiste Begueret, Pascal Fouillat, D. Belot
article
IEEE Journal of Solid-State Circuits, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002, 37, pp.1
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Conference papers

titre
Laser Utilization for Various Testing Purposes
auteur
Pascal Fouillat, Dean Lewis, Hervé Lapuyade, Vincent Pouget
article
3rd IEEE Latin American Test Worksop LATW 02, 2002, Uruguay
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titre
Caractérisation à distance de circuits radiofréquences
auteur
Jean-Baptiste Begueret, Eric Kerherve, Yann Deval, Pascal Fouillat, Regis Devreese, Christian Faurens
article
Septièmes Journées Pédagogiques du CNFM, 2002, France. INDISPONIBLE, pp.147-150, 2002
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titre
The Synchronous Oscillator in Frequency Generation : an Overview
auteur
Yann Deval, Jean-Baptiste Begueret, Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat, Eric Kerherve
article
14th IEEE International Conference on Microelectronics (ICM'2002), 2002, Lebanon
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titre
A 4 Gsamples/S with 2-4 GHz Input Bandwidth SIGE Digitizer for Radio Astronomy Applications
auteur
David Deschans, Jean-Baptiste Begueret, Yann Deval, Christophe Scarabello, Pascal Fouillat, G. Montignac, Alain Baudry
article
EEE 15th Symposium on Integrated Circuits and System Design (SBCCI 2002), 2002, Brazil. NC, pp.1, 2002
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titre
A SiGe 4-Gsps 2-Bits Digitizer with 2-4 GHz Input Bandwidth
auteur
David Deschans, Jean-Baptiste Begueret, Yann Deval, Christophe Scarabello, Pascal Fouillat, G. Montignac, Alain Baudry
article
9th IEEE Proc. Of International Conf. On Electronics, Circuits and Systems (ICECS'2002), 2002, Croatia. NC, pp.1, 2002
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titre
A 4 Gsamples/S with 2-4 GHz Input Bandwidth SIGE Digitizer for Radio Astronomy Applications
auteur
David Deschans, Jean-Baptiste Begueret, Yann Deval, Christophe Scarabello, Pascal Fouillat, G. Montignac, Alain Baudry
article
EEE 15th Symposium on Integrated Circuits and System Design (SBCCI 2002), 2002, Brazil. NC, pp.1, 2002
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titre
A SiGe 4-Gsps 2-Bits Digitizer with 2-4 GHz Input Bandwidth
auteur
David Deschans, Jean-Baptiste Begueret, Yann Deval, Christophe Scarabello, Pascal Fouillat, G. Montignac, Alain Baudry
article
9th IEEE Proc. Of International Conf. On Electronics, Circuits and Systems (ICECS'2002), 2002, Croatia. NC, pp.1, 2002
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titre
A Novel 1-Gbps Clock and Data Recovery Architecture using Synchronous Oscillator in CMOS VLSI technology
auteur
Christophe Scarabello, Jean-Baptiste Begueret, Yann Deval, David Deschans, Pascal Fouillat, Michel Pignol, Jean-Yves Le Gall
article
IEEE Proceedings of the 28th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC'2002), 2002, Italy
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titre
The Synchronous Oscillator in Frequency Generation : an Overview
auteur
Yann Deval, Jean-Baptiste Begueret, Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat, Eric Kerherve
article
14th IEEE International Conference on Microelectronics (ICM'2002), 2002, Lebanon
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titre
A Novel 1-Gbps Clock and Data Recovery Architecture using Synchronous Oscillator in CMOS VLSI technology
auteur
Christophe Scarabello, Jean-Baptiste Begueret, Yann Deval, David Deschans, Pascal Fouillat, Michel Pignol, Jean-Yves Le Gall
article
IEEE Proceedings of the 28th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC'2002), 2002, Italy
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Patents

titre
Récupération d'Horloge et de Données à Base d'Oscillateur Synchrone
auteur
Jean-Baptiste Begueret, Yann Deval, Pascal Fouillat, Jean-Yves Le Gall, Michel Pignol, Christophe Scarabello
article
France, N° de brevet: 0204201. 2002
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2001

Journal articles

titre
Backside Laser Testing of ICs for SET Sensitivity Evaluation
auteur
Dean Lewis, Vincent Pouget, Félix Beaudoin, Philippe Perdu, Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat, Andre Touboul
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2001, 48, pp.1
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titre
hiperLAN 5.4 GHz Low-Power CMOS Synchronous Oscillator
auteur
Yann Deval, Jean-Baptiste Begueret, Anne Spataro, Pascal Fouillat, D. Belot, Franck Badets
article
IEEE Trans. on Microwave Theory and Techniques, 2001, 49, pp.1
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titre
Theoretical Investigation of an Equivalent Laser LET
auteur
Vincent Pouget, Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat, Dean Lewis, S. Buchner
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2001, 41, pp.1
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titre
Front side and Backside OBIT Mappings applied to Single Event Transient Testing
auteur
Dean Lewis, Vincent Pouget, Thomas Beauchene, Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat, Andre Touboul, Félix Beaudoin, Philippe Perdu
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2001, 41, pp.1
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Conference papers

titre
Improving an SEU Hard Design using a Pulsed Laser
auteur
Jean-Max Dutertre, Fernand-Michel Roche, Patrice Fouillat, Dean Lewis
article
Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2001. 6th European Conference on, Sep 2001, Grenoble, France. <10.1109/RADECS.2001.1159287>
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130950/file/HAL_radecs2001_Improving_an_SEU_Hard_Design_using_a_Pulsed_Laser.pdf BibTex
titre
Télé-enseignement de la caractérisation de circuits radiofréquences
auteur
Jean-Baptiste Begueret, Eric Kerherve, Yann Deval, Pascal Fouillat, Regis Devreese, Christian Faurens
article
CETSIS-EEA'01, 2001, France
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BibTex
titre
Videoteaching for RF measurements of ICs in L - S - C bands
auteur
Jean-Baptiste Begueret, Yann Deval, Eric Kerherve, Pascal Fouillat, Regis Devreese, Christian Faurens
article
12th Conference of the European Association for Education in Electrical and Information Engineering (EAEEIE'2001), 2001, France
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titre
Bipolar Transistor's Intrinsic and Extrinsic Capacitance Determination
auteur
Bertrand Ardouin, Thomas Zimmer, Hassene Mnif, Pascal Fouillat, Dominique Berger, D. Celi
article
SISPAD 2001, International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, 2001, Greece. NC, pp.1, 2001
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titre
Transistor model parameter determination with non-conventional optimisation algorithms
auteur
Thomas Zimmer, Bertrand Ardouin, Francesco Franze, Dominique Berger, Pascal Fouillat
article
IEEE Electron Devices Conference, 2001, Spain. NC, pp.1, 2001
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titre
Direct Method for Bipolar Base-Emitter and Base-Collector Capacitance Splitting using High Frequency Measurements
auteur
Bertrand Ardouin, Thomas Zimmer, Hassene Mnif, Pascal Fouillat
article
IEEE Bipolar/BiCMOS circuits and technology meeting, 2001, United States. NC, pp.1, 2001
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BibTex
titre
Transit Time Parameter Extraction for the HICUM Bipolar Compact Model
auteur
Bertrand Ardouin, Thomas Zimmer, Dominique Berger, D. Celi, Hassene Mnif, T. Burdeau, Pascal Fouillat
article
IEEE Bipolar/BiCMOS circuits and technology meeting, 2001, United States. NC, pp.1, 2001
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titre
Evaluation of a Design Methodology Dedicated to Dose Rate Hardened Linear Integrated Circuits
auteur
Yann Deval, Renaud Briand, Pascal Fouillat, H. J. Barnaby, Hervé Lapuyade, Dean Lewis, Rd Schrimpf
article
European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), 2001, France. NC, pp.1, 2001
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titre
A New Laser System for X-Rays Flashes Sensitivity Evaluation
auteur
Dean Lewis, Hervé Lapuyade, Yann Deval, Yvan Maidon, Frédéric Darracq, Renaud Briand, Pascal Fouillat
article
Proc. of the 7th IEEE International On-Line Testing Workshop, 2001, Italy. NC, pp.1, 2001
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titre
Single-event Sensitivity of a single SRAM cell
auteur
Frédéric Darracq, Thomas Beauchene, Vincent Pouget, Hervé Lapuyade, Dean Lewis, Pascal Fouillat, Andre Touboul
article
RADECS, 2001, France. NC, pp.1, 2001
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titre
Test de circuits intégrés par faisceau laser pulsé
auteur
Dean Lewis, Vincent Pouget, Frédéric Darracq, Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat
article
Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation (C2I), 2001, France. NC, pp.1, 2001
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titre
Convertisseur de signaux orienté délai en technologie CMOS dédié à la réalisation d'un synthétiseur 2 GHz
auteur
Anne Spataro, Yann Deval, Jean-Baptiste Begueret, Pascal Fouillat, D. Belot
article
Journées Nationales Micro-ondes (JNM'2001), 2001, France
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titre
Clock Generator Using Factorial DLL for Video Applications
auteur
Jean-Baptiste Begueret, Yann Deval, Olivier Mazouffre, Anne Spataro, Pascal Fouillat, E. Benoit, J. Mendoza
article
IEEE Proceedings of the Custom IC Conf. (CICC'2001), 2001, États-Unis. NC, pp.1, 2001
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titre
A VLSI CMOS 2 GHz active load body effect mixer
auteur
Thierry Taris, Yann Deval, Jean-Baptiste Begueret, Pascal Fouillat
article
IEEE Proceedings of the Design of Circuits and Integrated Systems Conf. (DCIS'2001), 2001, Portugal. NC, pp.1, 2001
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BibTex
titre
Clock Generator Using Factorial DLL for Video Applications
auteur
Jean-Baptiste Begueret, Yann Deval, Olivier Mazouffre, Anne Spataro, Pascal Fouillat, E. Benoit, J. Mendoza
article
IEEE Proceedings of the Custom IC Conf. (CICC'2001), 2001, États-Unis. NC, pp.1, 2001
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titre
A CMOS VLSI Delay Oriented Waveform Converter Dedicated to the Synthesizer of an UMTS Transceiver
auteur
Anne Spataro, Yann Deval, Jean-Baptiste Begueret, Pascal Fouillat, D. Belot
article
IEEE Proceedings of the Custom IC Conf. (CICC'2001), 2001, États-Unis. NC, pp.1, 2001
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titre
A CMOS VLSI Delay Oriented Waveform Converter Dedicated to the Synthesizer of an UMTS Transceiver
auteur
Anne Spataro, Yann Deval, Jean-Baptiste Begueret, Pascal Fouillat, D. Belot
article
IEEE Proceedings of the Custom IC Conf. (CICC'2001), 2001, États-Unis. NC, pp.1, 2001
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titre
A VLSI CMOS 2 GHz active load body effect mixer
auteur
Thierry Taris, Yann Deval, Jean-Baptiste Begueret, Pascal Fouillat
article
IEEE Proceedings of the Design of Circuits and Integrated Systems Conf. (DCIS'2001), 2001, Portugal. NC, pp.1, 2001
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2000

Journal articles

titre
SPICE Modeling of the Transient Response of Irradiated MOSFETs
auteur
Vincent Pouget, Hervé Lapuyade, Dean Lewis, Yann Deval, Pascal Fouillat, L. Sarger
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2000, 47, pp.1
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titre
Laser Cross Section Measurement for the Evaluation of Single-Event Effects in Integrated Circuits
auteur
Vincent Pouget, Pascal Fouillat, Dean Lewis, Hervé Lapuyade, Frédéric Darracq, Andre Touboul
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2000, 40, pp.1
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Conference papers

titre
Model parameter extraction with non-conventional optimisation algorithms
auteur
Bertrand Ardouin, Thomas Zimmer, F. Franzè, Pascal Fouillat
article
JSFT, Oct 2000, Tunisia. pp._, 2000
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titre
Use of Genetic Algorithm for Efficient Integrated Circuits Compact Modelling and Parameter Extraction
auteur
Bertrand Ardouin, Thomas Zimmer, Jean Batiste Duluc, Francois Marc, Pascal Fouillat
article
ACIDCA'2000, Mar 2000, Monastir, Tunisia. pp._, 2000
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titre
An Overview of the Applications of a Pulsed Laser System for SEU Testing
auteur
Vincent Pouget, Pascal Fouillat, Dean Lewis, Hervé Lapuyade, L. Sarger, F. M. Roche, R. Ecoffet
article
6th IEEE International On Line Testing Workshop, 2000, Espagne. NC, pp.1, 2000
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Patents

titre
Circuits et Procédés de Génération de Signaux en Décalage de Phase
auteur
Jean-Baptiste Begueret, Didier Belot, Yann Deval, Pascal Fouillat, Anne Spataro
article
France, N° de brevet: 0004501. 2000
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1999

Journal articles

titre
Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis
auteur
Vincent Pouget, Dean Lewis, Hervé Lapuyade, Renaud Briand, Pascal Fouillat, L. Sarger, M. C. Calvet
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 1999, 39, pp.1
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Conference papers

titre
Hierarchical Analogue Design and Behavioral Modelling
auteur
Thomas Zimmer, Noëlle Lewis, Ahmed Fakhfakh, Bertrand Ardouin, Herve Levi, Pascal Fouillat
article
Microelectronic Systems Education Conference, MSE99, 1999, United States. NC, pp.1, 1999
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titre
SPICE Modeling of the Transient Response of Irradiated MOSFETs
auteur
Vincent Pouget, Hervé Lapuyade, Dean Lewis, Yann Deval, Pascal Fouillat, L. Sarger
article
5th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), 1999, France. NC, pp.1, 1999
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BibTex
titre
A New SPICE Model Dedicated to the Analysis of the Transient Response of Irradiated MOSFETS for On Line Testing
auteur
Vincent Pouget, Hervé Lapuyade, Dean Lewis, Pascal Fouillat, L. Sarger
article
5th IEEE International On Line Testing Workshop, 1999, Greece. NC, pp.1, 1999
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1998

Conference papers

titre
Elaboration of a New Pulsed Laser System for SEE Testing
auteur
Vincent Pouget, T. Calin, Hervé Lapuyade, Dean Lewis, Pascal Fouillat, R. Velazco, Yvan Maidon, L. Sarger
article
4th IEEE International On Line Testing Workshop, 1998, Italy. NC, pp.1, 1998
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BibTex
titre
New Capabilities for SEE Testing with a Femtosecond Pulsed Laser System
auteur
Vincent Pouget, Hervé Lapuyade, Dean Lewis, Pascal Fouillat, L. Sarger
article
Journées Nationales d Etudes de l association RADECS, 1998, United Kingdom. NC, pp.1, 1998
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BibTex
titre
Evolution of base current in C-In doped GaInP/GaAs HBT under current induced stress
auteur
Cristell Maneux, Nathalie Labat, Pascal Fouillat, Andre Touboul, Yves Danto
article
European Solid State Device Research Conference (Ed. Frontières), ESSDERC, 1998, France. NC, pp.1, 1998
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1997

Journal articles

titre
Modélisation des effets des radiations sur les transistors bipolaires
auteur
Xavier Montagner, Pascal Fouillat, Andre Touboul, Hervé Lapuyade, Rd Schrimpf, Kf Galloway
article
REVUE DE l'ELECTRICITE ET DE L'ELECTRONIQUE, 1997, 1, pp.1
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Conference papers

titre
Influence des effets de dose cumulée sur les règles de conception des circuits intégrés bipolaires
auteur
Xavier Montagner, Yann Deval, Pascal Fouillat, Andre Touboul, Jean-Paul Dom
article
Colloque CAO des circuits intégrés et systèmes, 1997, France
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BibTex
titre
Simulation d upsets dans une mémoire SRAM CMOS utilisant des capteurs de courant intégrés
auteur
T. Calin, Hervé Lapuyade, Michael Nicolaidis, R. Velazco, Pascal Fouillat
article
Journées Nationales d Etudes de l association RADECS, 1997, France. NC, pp.1, 1997
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1996

Journal articles

titre
Analysis of Latchup susceptibility to internal logical states by using a Laser beam
auteur
Pascal Fouillat, Hervé Lapuyade, Yvan Maidon, Jean-Paul Dom
article
Microelectronics Engineering, 1996, 31, pp.1
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BibTex
titre
Numerical Modelling of Mechanisms involved in Latchup Triggering by a Laser Beam
auteur
Pascal Fouillat, Hervé Lapuyade, Andre Touboul, Jean-Paul Dom, R. Gaillard
article
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1996, 43, pp.1
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BibTex
titre
High performance InP-based heterostructure barrier varactors in single and stack configuration
auteur
Eric Lheurette, Patrick Mounaix, Patrice Salzenstein, Francis Mollot, Didier Lippens
article
Electronics Letters, IET, 1996, 32, pp.1417-1418
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00076889/file/1996-EL-july.pdf BibTex
titre
Coplanar waveguides on dielectric membranes micromachined on GaAs substrate
auteur
Patrice Salzenstein, Olivier Dupuis, Mohamed Helal, Eric Lheurette, Olivier Vanbésien, Patrick Mounaix, Didier Lippens
article
Electronics Letters, IET, 1996, 32, pp.821-822
Accès au texte intégral et bibtex
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00076886/file/1996-EL-april.pdf BibTex

Conference papers

titre
Simulations électriques des effets de débit de dose et de dose cumulée dans les circuits intégrés bipolaires : méthodologie de conception durcie aux radiations
auteur
Yann Deval, Renaud Briand, Xavier Montagner, Pascal Fouillat, Jean Tomas, Jean-Paul Dom
article
Journées d'étude RADECS96, 1996, France
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BibTex
titre
Analysis of Latchup susceptibility to internal logical states by using a Laser beam
auteur
Pascal Fouillat, Hervé Lapuyade, Yvan Maidon, Jean-Paul Dom
article
Proc. of the 5th European Conference on Electron and Optical Beam Testing of Electronic Devices, 1996, Germany. NC, pp.1, 1996
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titre
Built-In Laser Sensitive Cells For a New Testing Technique
auteur
Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat, Jean-Paul Dom
article
Proc. of the 2nd IEEE International On-Line Testing Workshop, 1996, France. NC, pp.1, 1996
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1995

Conference papers

titre
Planar integration of Single and Double Barrier Quantum Devices
auteur
Eric Lheurette, Patrick Mounaix, Patrice Salzenstein, Francis Mollot, Didier Lippens
article
1995, EUROPEAN OFFICE OF AEROSPACE RESEARCH AND DEVELOPMENT (EOARD), 1995
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titre
Single Barrier Varactors and Resonant Tunneling Diodes for Millimeter Waves Applications
auteur
Patrick Mounaix, Eric Lheurette, Francis Mollot, Patrice Salzenstein, Didier Lippens
article
Proceeding of the European Space Agency, ESTEC. workshop, Noordwijk, Netherlands, 5-7 December, 1995, 1995, Noordwijk, Netherlands. ESA, pp.1-10, 1995
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00076912/file/1995-12-5-ESTEC.pdf BibTex
titre
Microtechnologie des composés III-V
auteur
Patrice Salzenstein, Patrick Mounaix, Xavier Mélique, Eric Lheurette, Didier Lippens
article
Actes de la 6ème Journée Nanotechnologie, Paris, 21 Novembre 1995, 1995, France. 1995
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titre
Numerical Modelling of Mechanisms involved in Latchup Triggering by a Laser Beam
auteur
Pascal Fouillat, Hervé Lapuyade, Andre Touboul, Jean-Paul Dom, R. Gaillard
article
Proc. of the Third European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, 1995, France. NC, pp.1, 1995
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titre
A microcontroller failure analysis using a LASER beam latchup triggering technique
auteur
Pascal Fouillat, Jean-Edmond Le Calve, Hervé Lapuyade, Yvan Maidon, Jean-Paul Dom
article
Proc. of the 6th European Symposium on Reliability of Electronic devices, Failure Physics and analysis, 1995, France. NC, pp.1, 1995
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titre
Design For Testability of Built-In Laser Sensitive Cells
auteur
Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat, Yvan Maidon, Jean Tomas, Jean-Paul Dom
article
Proc. of the 6th European Symposium Reliability of Electronic devices, Failure Physics and analysis, 1995, France. NC, pp.1, 1995
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1994

Journal articles

titre
Implementation of Laser Beam Sensitive Cells : a new approach for integrated circuits testing
auteur
Pascal Fouillat, Stéphane Gervais-Ducouret, Hervé Lapuyade, Jean-Paul Dom
article
Quality and Reliability Engineering International, Wiley, 1994, 10, pp.1
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Conference papers

titre
Single Barrier Varactor for harmonic multiplication
auteur
Olivier Tanguy, Patrice Salzenstein, Patrick Mounaix, Xavier Wallart, Didier Lippens
article
1994, IEMN, 1994
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Since many years, laser testing has proved is efficiency as a complementary technique to particle accelerator to evaluate in much detail the sensitivity of chips or system to different kinds of SEE. Laser pulses and heavy ions have in common the capability to create a very high density of electron-hole pairs during a very short time inside a very small volume. The charge deposition radius of a laser may be significantly higher than the one of the low energy heavy ions found in particle accelerators but it is closer to the one of high energy ions found in space. The laser can only reproduce the effects triggered by charge collection inside the semiconductor, it cannot induce structural damage such as displacement damage or charge trapping into oxides.

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